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二次イオン質量分析法

日本表面科学会編. -- 丸善, 1999. -- (表面分析技術選書). <BB21091352>
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二次イオン質量分析法

日本表面科学会編. -- 丸善, 1999. -- (表面分析技術選書). <BB21091352>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 瀬田.本館2F開架 428.4/ニホニ 30000000770 一般 0件
巻号
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.本館2F開架
請求記号 428.4/ニホニ
資料ID 30000000770
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
Web書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 二次イオン質量分析法 / 日本表面科学会編
ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ
出版・頒布事項 東京 : 丸善 , 1999.7
形態事項 vii, 195p ; 21cm
巻号情報
ISBN 4621046233
書誌構造リンク 表面分析技術選書||ヒョウメン ブンセキ ギジュツ センショ <BB11004138>//a
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NCID BA42291413
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 日本表面科学会||ニホン ヒョウメン カガクカイ <AU00023580>
分類標目 物性物理学 NDC8:428.4
分類標目 物性物理学 NDC9:428.4
分類標目 分析化学［化学分析］ NDC9:433.6
分類標目 科学技術 NDLC:PA124
件名標目等 表面(工学上)||ヒョウメン(コウガクジョウ)
件名標目等 イオンビーム||イオンビーム
件名標目等 質量分析||シツリョウブンセキ
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