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デバイス・部品の信頼性試験

高久清〔ほか〕著. -- 日科技連出版社, 1992. -- (信頼性110番シリーズ ; 2). <BB20148933>
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デバイス・部品の信頼性試験

高久清〔ほか〕著. -- 日科技連出版社, 1992. -- (信頼性110番シリーズ ; 2). <BB20148933>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 瀬田.自動化書庫 549/シンラ/2 39240043428 一般 0件
巻号
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.自動化書庫
請求記号 549/シンラ/2
資料ID 39240043428
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
Web書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 デバイス・部品の信頼性試験 / 高久清〔ほか〕著
デバイス・ブヒン ノ シンライセイ シケン
出版・頒布事項 東京 : 日科技連出版社 , 1992.9
形態事項 x, 164p ; 21cm
巻号情報
ISBN 4817130288
書誌構造リンク 信頼性110番シリーズ||シンライセイ 110バン シリーズ <BB10027841> 2//a
　>>シリーズで再検索する
NCID BN08248468
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 高久, 清(1943-)||タカヒサ, キヨシ <AU00066057>
分類標目 電子工学 NDC8:549.8
件名標目等 半導体||ハンドウタイ
件名標目等 集積回路||シュウセキカイロ
件名標目等 信頼性(工学)||シンライセイ(コウガク)
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