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シリコンの物性と評価法

小間篤 [ほか] 共著. -- 丸善, 1987. -- (電子材料シリーズ). <BB20366621>
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シリコンの物性と評価法

小間篤 [ほか] 共著. -- 丸善, 1987. -- (電子材料シリーズ). <BB20366621>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 瀬田.自動化書庫 549.8/コアシ 38940035310 一般 0件
0002 3 深草.8号館閉架3F 549/テンシ-B/3 19551983593 一般 0件
巻号
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.自動化書庫
請求記号 549.8/コアシ
資料ID 38940035310
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
Web書棚
巻号 3
所蔵館 深草
配置場所 深草.8号館閉架3F
請求記号 549/テンシ-B/3
資料ID 19551983593
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
Web書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 シリコンの物性と評価法 / 小間篤 [ほか] 共著
シリコン ノ ブッセイ ト ヒョウカホウ
出版・頒布事項 東京 : 丸善 , 1987.7
形態事項 x, 251p ; 22cm
巻号情報
ISBN 4621031856
書誌構造リンク 電子材料シリーズ||デンシ ザイリョウ シリーズ <BB10015298>//a
　>>シリーズで再検索する
注記 文献: 章末
注記 参考書: p[243]〜244
注記 その他の共著者: 白木靖寛, 齋木幸一郎, 飯田厚夫
NCID BN01165985
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 小間, 篤||コマ, アツシ <AU00099905>
分類標目 電子工学 NDC8:549.8
分類標目 科学技術 NDLC:ND371
件名標目等 シリコン||シリコン
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