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何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び
ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳. -- ナカニシヤ出版, 2023. <BB32200881>
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何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び
ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳. -- ナカニシヤ出版, 2023. <BB32200881>
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1件~1件(全1件)
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10件
20件
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No.
巻号
配置場所
請求記号
資料ID
コメント
状態
禁帯出区分
予約
Web書棚
0001
瀬田.本館1F開架
371.7/カケナ
32305007015
一般
0件
予約
Web書棚
巻号
所蔵館
瀬田
配置場所
瀬田.本館1F開架
請求記号
371.7/カケナ
資料ID
32305007015
コメント
状態
禁帯出区分
一般
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予約
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書誌詳細
標題および責任表示
何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び / ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳
ナンノ タメ ノ テスト : ヒョウカ デ カワル ガッコウ ト マナビ
出版・頒布事項
京都 : ナカニシヤ出版 , 2023.3
形態事項
viii, 223p ; 21cm
巻号情報
ISBN
9784779517044
その他の標題
原タイトル:Beyond the tyranny of testing : relational evaluation in education
NCID
BD00745593
本文言語コード
日本語
著者標目リンク
Gergen, Kenneth J. <AU00053426>
著者標目リンク
Gill, Scherto R. <AU00425082>
著者標目リンク
東村, 知子||ヒガシムラ, トモコ <AU00296914>
著者標目リンク
鮫島, 輝美||サメシマ, テルミ <AU00403134>
分類標目
教育学.教育思想 NDC9:371.7
分類標目
教育学.教育思想 NDC10:371.7
分類標目
教育 NDLC:FC63
件名標目等
教育評価||キョウイクヒョウカ
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