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物質・材料研究のための透過電子顕微鏡

木本浩司 [ほか] 著. -- 講談社, 2020. <BB32120035>
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木本浩司 [ほか] 著. -- 講談社, 2020. <BB32120035>
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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 瀬田.本館2F開架 549.97/キコフ 32005024668 一般 0件
巻号
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.本館2F開架
請求記号 549.97/キコフ
資料ID 32005024668
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
Web書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 物質・材料研究のための透過電子顕微鏡 / 木本浩司 [ほか] 著
ブッシツ ザイリョウ ケンキュウ ノ タメ ノ トウカ デンシ ケンビキョウ
出版・頒布事項 東京 : 講談社 , 2020.7
形態事項 x, 389p ; 21cm
巻号情報
ISBN 9784065203866
その他の標題 標題紙タイトル:Transmission Electron Microscope for Materials Research
その他の標題 異なりアクセスタイトル:透過電子顕微鏡 : 物質・材料研究のための
トウカ デンシ ケンビキョウ : ブッシツ・ザイリョウ ケンキュウ ノ タメ ノ
その他の標題 異なりアクセスタイトル:物質材料研究のための透過電子顕微鏡
ブッシツ ザイリョウ ケンキュウ ノ タメ ノ トウカ デンシ ケンビキョウ
注記 結晶構造分析・元素分析・化学結合状態解析などを原子レベルで行うことができる透過電子顕微鏡法(TEM)。電子回折法、走査透過電子顕微鏡法、電子エネルギー損失分光法等、TEMのさまざまな計測手法を詳しく解説する。
注記 その他の著者: 三石和貴, 三留正則, 原徹, 長井拓郎
NCID BC01556588
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 木本, 浩司
キモト, コウジ <>
著者標目リンク 三石, 和貴
ミツイシ, カズタカ <>
著者標目リンク 三留, 正則
ミトメ, マサノリ <>
著者標目リンク 原, 徹
ハラ, トオル <>
著者標目リンク 長井, 拓郎
ナガイ, タクロウ <>
分類標目 電子工学 NDC8:549.97
分類標目 電子工学 NDC9:549.97
分類標目 電子工学 NDC10:549.97
件名標目等 電子顕微鏡||デンシケンビキョウ
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