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半導体デバイスの不良・故障解析技術

二川清編著 ; 上田修, 山本秀和著. -- 日科技連出版社, 2019. -- (信頼性技術叢書). <BB32106858>
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半導体デバイスの不良・故障解析技術

二川清編著 ; 上田修, 山本秀和著. -- 日科技連出版社, 2019. -- (信頼性技術叢書). <BB32106858>
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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 瀬田.本館2F開架 549.8/ニキハ 31900026431 一般 0件
巻号
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.本館2F開架
請求記号 549.8/ニキハ
資料ID 31900026431
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 半導体デバイスの不良・故障解析技術 / 二川清編著 ; 上田修, 山本秀和著
ハンドウタイ デバイス ノ フリョウ コショウ カイセキ ギジュツ
出版・頒布事項 東京 : 日科技連出版社 , 2019.12
形態事項 viii, 218p, 図版 [2] p : 挿図 ; 21cm
巻号情報
ISBN 9784817196859
書誌構造リンク 信頼性技術叢書||シンライセイ ギジュツ ソウショ <BB21433250>//a
　>>シリーズで再検索する
その他の標題 異なりアクセスタイトル:半導体デバイスの不良故障解析技術
ハンドウタイ デバイス ノ フリョウ コショウ カイセキ ギジュツ
注記 参考文献: 章末
NCID BB29632856
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 二川, 清(1949-)||ニカワ, キヨシ <AU00066056>
著者標目リンク 上田, 修
ウエダ, オサム <>
著者標目リンク 山本, 秀和||ヤマモト, ヒデカズ <AU00377811>
分類標目 電子工学 NDC8:549.8
分類標目 電子工学 NDC9:549.8
分類標目 電子工学 NDC10:549.8
件名標目等 半導体||ハンドウタイ
件名標目等 信頼性(工学)||シンライセイ(コウガク)
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