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TOEIC L&Rテストよくわかる総合対策と解き方

早川幸治, ロス・タロック著. -- 語研, 2019. <BB32087496>
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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 瀬田.本館B1開架 830.79/ハコト 31905013642 一般 0件
巻号
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.本館B1開架
請求記号 830.79/ハコト
資料ID 31905013642
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
Web書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 TOEIC L&Rテストよくわかる総合対策と解き方 / 早川幸治, ロス・タロック著
TOEIC L&R テスト ヨク ワカル ソウゴウ タイサク ト トキカタ
出版・頒布事項 東京 : 語研 , 2019.4
形態事項 292p : 挿図 ; 21cm + CD-ROM 1枚(12cm)
巻号情報
ISBN 9784876153442
その他の標題 異なりアクセスタイトル:Focused preparation for the TOEIC L&R test
注記 付属資料:MP3形式の音声データを収録したCD-ROM
NCID BB28294973
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 早川, 幸治||ハヤカワ, コウジ <AU00332130>
著者標目リンク Tulloch, Ross <AU00396442>
分類標目 児童図書・簡易整理資料・教科書・専門資料室資料・特殊資料 NDLC:YU37
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