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異種材料界面の測定と評価技術 : Evaluation technology for interfacial phenomena
石井淑夫監修. -- テクノシステム, 2012. <BB21513329>
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石井淑夫監修. -- テクノシステム, 2012. <BB21513329>
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0001
瀬田.本館2F開架
501.4/イシユ
31200053336
一般
0件
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Web書棚
巻号
所蔵館
瀬田
配置場所
瀬田.本館2F開架
請求記号
501.4/イシユ
資料ID
31200053336
コメント
状態
禁帯出区分
一般
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書誌詳細
標題および責任表示
異種材料界面の測定と評価技術 : Evaluation technology for interfacial phenomena / 石井淑夫監修
イシュ ザイリョウ カイメン ノ ソクテイ ト ヒョウカ ギジュツ : Evaluation technology for interfacial phenomena
出版・頒布事項
東京 : テクノシステム , 2012.3
形態事項
15, 562p : 挿図 ; 27cm
巻号情報
ISBN
9784924728653
注記
引用・参考文献: 各節末
NCID
BB08905848
本文言語コード
日本語
著者標目リンク
石井, 淑夫||イシイ, トシオ <AU00267692>
分類標目
科学技術 NDLC:PA61
分類標目
物理化学.理論化学 NDC9:431.86
分類標目
工業基礎学 NDC8:501.4
分類標目
工業基礎学 NDC9:501.4
件名標目等
界面化学||カイメンカガク
件名標目等
測定・測定器||ソクテイ・ソクテイキ
件名標目等
工業材料||コウギョウザイリョウ
件名標目等
界面化学||カイメンカガク
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