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Scanning probe microscopy techniques

Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori. -- Springer, 2008. -- (Nanoscience and technology . Applied scanning probe methods ; 8). <BB21384459>
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Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori. -- Springer, 2008. -- (Nanoscience and technology . Applied scanning probe methods ; 8). <BB21384459>
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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 瀬田.新館2F開架 620.1/APP/8 30800019314 一般 0件
巻号
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.新館2F開架
請求記号 620.1/APP/8
資料ID 30800019314
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
Web書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 Scanning probe microscopy techniques / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori
出版・頒布事項 Berlin : Springer , c2008
形態事項 lix, 465 p. : ill. (some col.) ; 24 cm
巻号情報
ISBN 9783540740797
書誌構造リンク Nanoscience and technology <BB11011336> . Applied scanning probe methods ; 8//aa
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NCID BA8457625X
本文言語コード 英語
著者標目リンク Bhushan, Bharat, 1949- <AU00264996>
著者標目リンク Fuchs, H. (Harald) <AU00284697>
著者標目リンク 富取, 正彦||トミトリ, マサヒコ <AU00320123>
分類標目 LCC:QC
分類標目 DC22:502.82
件名標目等 Scanning probe microscopy
件名標目等 Scanning probe microscopy -- Industrial applications
件名標目等 Materials -- Microscopy
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