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Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching : application to rough and natural surfaces

G. Kaupp. -- Springer, 2006. -- (Nanoscience and technology). <BB21332273>
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Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching : application to rough and natural surfaces

G. Kaupp. -- Springer, 2006. -- (Nanoscience and technology). <BB21332273>
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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 瀬田.新館2F開架 502.82/KAU 30600024761 一般 0件
巻号
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.新館2F開架
請求記号 502.82/KAU
資料ID 30600024761
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
Web書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching : application to rough and natural surfaces / G. Kaupp
出版・頒布事項 Berlin : Springer , c2006
形態事項 xii, 292 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 3540284052
書誌構造リンク Nanoscience and technology <BB11011336>//a
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注記 Includes bibliographical references and index
NCID BA78008037
本文言語コード 英語
著者標目リンク Kaupp, G. (Gerd) <AU00307385>
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