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Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents

A. Foster, W. Hofer. -- Springer, 2006. -- (Nanoscience and technology). <BB21332274>
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A. Foster, W. Hofer. -- Springer, 2006. -- (Nanoscience and technology). <BB21332274>
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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 瀬田.新館2F開架 502.82/FOS 30600024772 一般 0件
巻号
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.新館2F開架
請求記号 502.82/FOS
資料ID 30600024772
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents / A. Foster, W. Hofer
出版・頒布事項 Berlin : Springer , c2006
形態事項 xiv, 281 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0387400907
書誌構造リンク Nanoscience and technology <BB11011336>//a
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注記 Includes bibliographical references and index
NCID BA77975040
本文言語コード 英語
ISSN 14344904
著者標目リンク Foster, Adam <>
著者標目リンク Hofer, Werner <>
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