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Nanoscale characterisation of ferroelectric materials : scanning probe microscopy approach

M. Alexe, A. Gruverman, Eds. -- Springer, 2004. -- (Nanoscience and technology). <BB21247123>
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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 瀬田.新館2F開架 620/ALE 30400014718 一般 0件
巻号
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.新館2F開架
請求記号 620/ALE
資料ID 30400014718
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
Web書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 Nanoscale characterisation of ferroelectric materials : scanning probe microscopy approach / M. Alexe, A. Gruverman, Eds
出版・頒布事項 Berlin : Springer , c2004
形態事項 xiii, 282p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 3540206620
書誌構造リンク Nanoscience and technology <BB11011336>//a
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注記 Includes bibliographical references and index
NCID BA67035785
本文言語コード 英語
ISSN 14344904
著者標目リンク Alexe, M. (Marin) <>
著者標目リンク Gruverman, A. (Alexei) <>
分類標目 LCC:TA418.9.N35
分類標目 DC22:620/.5
件名標目等 Nanostructured materials
件名標目等 Nanotechnology
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