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Records of the 2003 International Workshop on Memory Technology, Design and Testing, 28-29 July 2003, San Jose, California

sponsored by IEEE Computer Society, IEEE Computer Society Technical Committee on VLSI, IEEE Computer Society Technical Council on Test Technology ; in cooperation with IEEE Solid State Circuits Society ; [edited by Tom Wik, Adit Singh, and Rochit Rajsuman]. -- IEEE Computer Society, 2003. <BB21239073>
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Records of the 2003 International Workshop on Memory Technology, Design and Testing, 28-29 July 2003, San Jose, California

sponsored by IEEE Computer Society, IEEE Computer Society Technical Committee on VLSI, IEEE Computer Society Technical Council on Test Technology ; in cooperation with IEEE Solid State Circuits Society ; [edited by Tom Wik, Adit Singh, and Rochit Rajsuman]. -- IEEE Computer Society, 2003. <BB21239073>
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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 瀬田.新館2F開架 621.39/IEE/2003 30300118483 一般 0件
巻号
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.新館2F開架
請求記号 621.39/IEE/2003
資料ID 30300118483
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Records of the 2003 International Workshop on Memory Technology, Design and Testing, 28-29 July 2003, San Jose, California / sponsored by IEEE Computer Society, IEEE Computer Society Technical Committee on VLSI, IEEE Computer Society Technical Council on Test Technology ; in cooperation with IEEE Solid State Circuits Society ; [edited by Tom Wik, Adit Singh, and Rochit Rajsuman]
出版・頒布事項 Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society , c2003
形態事項 ix, 95 p. : ill. ; 28 cm
巻号情報
ISBN 0769520049
その他の標題 異なりアクセスタイトル:PR02004
その他の標題 異なりアクセスタイトル:MTDT 2003
その他の標題 背表紙タイトル:Records of the 2003 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing
注記 "IEEE Computer Society Order Number PR02004" -- T. p. verso
注記 Includes bibliographical references and index
NCID BA65806250
本文言語コード 英語
ISSN 10874852
著者標目リンク *IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing <AU00424640> (2003 : San Jose, Calif.)
著者標目リンク Singh, Adit <>
著者標目リンク Wik, Thomas <>
著者標目リンク Rajsuman, Rochit <AU00424641>
著者標目リンク IEEE Computer Society <AU00024799>
著者標目リンク IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council <AU00424642>
著者標目リンク IEEE Computer Society. Technical Committee on VLSI <AU00162695>
著者標目リンク IEEE Solid-State Circuits Society <AU00265892>
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