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Applied scanning probe methods

Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka [eds.]. -- Springer, 2003. -- (Nanoscience and technology). <BB21238716>
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Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka [eds.]. -- Springer, 2003. -- (Nanoscience and technology). <BB21238716>
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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 瀬田.新館2F開架 620.1/APP/1 30300117265 一般 0件
巻号
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.新館2F開架
請求記号 620.1/APP/1
資料ID 30300117265
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
Web書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 Applied scanning probe methods / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka [eds.]
出版・頒布事項 Berlin ; New York : Springer , c2004
形態事項 xx, 476 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 3540005277
書誌構造リンク Nanoscience and technology <BB11011336>//a
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注記 Includes bibliographical references and index
NCID BA65708590
本文言語コード 英語
著者標目リンク Bhushan, Bharat, 1949- <AU00264996>
著者標目リンク Fuchs, H. (Harald) <AU00284697>
著者標目リンク Hosaka, Sumio <AU00284698>
分類標目 LCC:TA417.23
分類標目 DC22:620.1/1299
件名標目等 Materials -- Microscopy
件名標目等 Scanning probe microscopy
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