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表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用

D.ブリッグス, M.P.シーア編 ; 志水隆一, 二瓶好正監訳 ; 新SIMS研究会訳. -- アグネ承風社, 2003. <BB21225115>
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表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用

D.ブリッグス, M.P.シーア編 ; 志水隆一, 二瓶好正監訳 ; 新SIMS研究会訳. -- アグネ承風社, 2003. <BB21225115>
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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 瀬田.本館2F開架 428.4/フテヒ 30305019768 一般 0件
巻号
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.本館2F開架
請求記号 428.4/フテヒ
資料ID 30305019768
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用 / D.ブリッグス, M.P.シーア編 ; 志水隆一, 二瓶好正監訳 ; 新SIMS研究会訳
ヒョウメン ブンセキ SIMS : ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ ノ キソ ト オウヨウ
出版・頒布事項 東京 : アグネ承風社 , 2003.7
形態事項 xix, 429p : 挿図 ; 21cm
巻号情報
ISBN 4900508101
その他の標題 原タイトル:Practical surface analysis. Volume2: Ion and neutral spectroscopy
注記 引用文献: 各章末
注記 Practical surface analysis.Volume2:Ion and neutral spectroscopy 原著第2版の抄訳
NCID BA62889819
本文言語コード 日本語
著者標目リンク Briggs, D. <AU00138647>
著者標目リンク Seah, M. P. <AU00138648>
著者標目リンク 志水, 隆一||シミズ, リュウイチ <AU00138644>
著者標目リンク 二瓶, 好正(1940-)||ニヘイ, ヨシマサ <AU00067193>
著者標目リンク 新SIMS研究会
シン シムス ケンキュウカイ <>
分類標目 物性物理学 NDC8:428.4
分類標目 物性物理学 NDC9:428.4
件名標目等 表面(工学上)||ヒョウメン(コウガクジョウ)
件名標目等 イオンビーム||イオンビーム
件名標目等 質量分析||シツリョウブンセキ
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