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Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits

Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal. -- Kluwer Academic, 2000. -- (Frontiers in electronic testing). <BB21134758>
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Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal. -- Kluwer Academic, 2000. -- (Frontiers in electronic testing). <BB21134758>
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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 瀬田.新館2F開架 621.39/BUS 30100055791 一般 0件
巻号
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.新館2F開架
請求記号 621.39/BUS
資料ID 30100055791
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
Web書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits / Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal
出版・頒布事項 Boston, MA : Kluwer Academic , c2000
形態事項 xviii, 690 p. : ill. ; 26 cm
巻号情報
ISBN 0792379918
書誌構造リンク Frontiers in electronic testing <BB11000336>//a
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注記 Includes bibliographical references and index
NCID BA50218474
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- <AU00255976>
著者標目リンク Agrawal, Vishwani D., 1943- <AU00255977>
分類標目 LCC:TK7874.75
分類標目 DC21:621.39/5
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
件名標目等 Digital integrated circuits -- Testing
件名標目等 Mixed signal circuits -- Testing
件名標目等 Semiconductor storage devices -- Testing
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