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はじめてのデバイス評価技術

二川清著. -- 工業調査会, 2000. -- (ビギナーズブックス ; 9). <BB21095024>
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はじめてのデバイス評価技術

二川清著. -- 工業調査会, 2000. -- (ビギナーズブックス ; 9). <BB21095024>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 瀬田.本館2F開架 549.8/ニキハ 30000016483 一般 0件
巻号
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.本館2F開架
請求記号 549.8/ニキハ
資料ID 30000016483
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
Web書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 はじめてのデバイス評価技術 / 二川清著
ハジメテ ノ デバイス ヒョウカ ギジュツ
出版・頒布事項 東京 : 工業調査会 , 2000.1
形態事項 242p ; 21cm
巻号情報
ISBN 4769311796
書誌構造リンク ビギナーズブックス||ビギナーズ ブックス <BB11004347> 9//a
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注記 参考文献・引用文献: p222-230
NCID BA45365141
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 二川, 清(1949-)||ニカワ, キヨシ <AU00066056>
分類標目 電子工学 NDC8:549.8
件名標目等 半導体||ハンドウタイ
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