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材料評価のための分析電子顕微鏡法

進藤大輔, 及川哲夫共著. -- 共立出版, 1999. <BB21068325>
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材料評価のための分析電子顕微鏡法

進藤大輔, 及川哲夫共著. -- 共立出版, 1999. <BB21068325>
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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 瀬田.本館2F開架 549.97/シタサ 39900057621 一般 0件
巻号
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.本館2F開架
請求記号 549.97/シタサ
資料ID 39900057621
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 材料評価のための分析電子顕微鏡法 / 進藤大輔, 及川哲夫共著
ザイリョウ ヒョウカ ノ タメ ノ ブンセキ デンシ ケンビキョウホウ
出版・頒布事項 東京 : 共立出版 , 1999.5
形態事項 vi, 182p ; 26cm
巻号情報
ISBN 4320085248
その他の標題 異なりアクセスタイトル:材料評価のための分析電子顕微鏡法
ザイリョウ ヒョウカ ノ タメ ノ ブンセキ デンシ ケンビキョウ ホウ
注記 参考文献: 各章末
NCID BA41742572
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 進藤, 大輔(1953-)||シンドウ, ダイスケ <AU00171779>
著者標目リンク 及川, 哲夫(1951-)||オイカワ, テツオ <AU00237657>
分類標目 電子工学 NDC8:549.97
分類標目 工業基礎学 NDC9:501.55
分類標目 電子工学 NDC9:549.97
分類標目 科学技術 NDLC:M217
件名標目等 電子顕微鏡||デンシケンビキョウ
件名標目等 材料試験||ザイリョウシケン
件名標目等 電子顕微鏡||デンシケンビキョウ
件名標目等 材料試験||ザイリョウシケン
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