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Identification of defects in semiconductors

volume editor Michael Stavola ; [A], [B]. -- Academic Press, 1998. -- (Semiconductors and semimetals ; vol. 51A-B). <BB21051522>
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Identification of defects in semiconductors

volume editor Michael Stavola ; [A], [B]. -- Academic Press, 1998. -- (Semiconductors and semimetals ; vol. 51A-B). <BB21051522>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 [A] 瀬田.新館2F開架 621.38/WIL/51-A 39900002828 一般 0件
0002 [B] 瀬田.新館2F開架 621.38/WIL/51-B 39900002511 一般 0件
巻号 [A]
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.新館2F開架
請求記号 621.38/WIL/51-A
資料ID 39900002828
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
Web書棚
巻号 [B]
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.新館2F開架
請求記号 621.38/WIL/51-B
資料ID 39900002511
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
Web書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 Identification of defects in semiconductors / volume editor Michael Stavola
出版・頒布事項 San Diego : Academic Press , c1998-
形態事項 2 v. : ill. ; 24 cm
巻号情報
巻次等 [A]
ISBN 0127521593
巻号情報
巻次等 [B]
ISBN 0127521658
書誌構造リンク Semiconductors and semimetals <BB21051800> vol. 51A-B//a
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注記 Includes bibliographical references and index
NCID BA36183890
本文言語コード 英語
著者標目リンク Stavola, Michael <AU00233141>
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