龍谷大学図書館

ログイン

  • 目録検索 目録検索 ▼
  • 利用者サービス MyLibraryメニュー ▼
    • 利用状況の確認
    • ブックマーク
    • お気に入り検索
    • グループワークルーム予約
    • 新着アラート
    • ILL複写依頼
    • ILL貸借依頼
    • 図書購入希望

龍谷大学図書館

検索結果一覧へ戻る

Hot-carrier effects in MOS devices

by Eiji Takeda, Cary Y. Yang, Akemi Miura-Hamada. -- Academic Press, 1995. <BB20401920>
登録タグ：
登録されているタグはありません
便利機能：
目次・あらすじを見る 詳細情報を見る
書誌URL：

Hot-carrier effects in MOS devices

by Eiji Takeda, Cary Y. Yang, Akemi Miura-Hamada. -- Academic Press, 1995. <BB20401920>
登録タグ：
登録されているタグはありません
便利機能：
目次・あらすじを見る 詳細情報を見る
書誌URL：

所蔵一覧 1件～1件（全1件）

ナンバーをクリックすると所蔵詳細をみることができます。

No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 瀬田.自動化書庫 537.6/TAK 39500226865 一般 0件
巻号
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.自動化書庫
請求記号 537.6/TAK
資料ID 39500226865
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
Web書棚
このページのTOPへ
このページのTOPへ

書誌詳細

標題および責任表示 Hot-carrier effects in MOS devices / by Eiji Takeda, Cary Y. Yang, Akemi Miura-Hamada
出版・頒布事項 San Diego : Academic Press , c1995
形態事項 xii,312 p. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0126822409
注記 Includes references(p187-301) and index
NCID BA26664881
本文言語コード 英語
著者標目リンク *竹田, 英二(1944-)||タケダ, エイジ <AU00046281>
著者標目リンク Yang, C. Y.-W. (Cary Y.-W.), 1948- <AU00158554>
著者標目リンク Miura-Hamada, Akemi <>
分類標目 LCC:TK7871.99.M44
分類標目 DC20:537.6/225
件名標目等 Metal oxide semiconductors
件名標目等 Hot carriers
このページのTOPへ
検索結果一覧へ戻る
このページのTOPへ

  • 関連情報

    関連資料

    他の検索サイトで探す

    他大学資料確認

    資料を取り寄せる

    • ILL複写依頼(コピー取り寄せ)
    • ILL貸借依頼(現物借用)

    購入希望

    この書誌のQRコード