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VLSI reliability

Anant G. Sabnis. -- Academic Press, 1990. -- (VLSI electronics : microstructure science / edited by Norman G. Einspruch ; v. 22). <BB20125301>
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VLSI reliability

Anant G. Sabnis. -- Academic Press, 1990. -- (VLSI electronics : microstructure science / edited by Norman G. Einspruch ; v. 22). <BB20125301>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 瀬田.自動化書庫 621.38/EIN/22 39040141387 一般 0件
巻号
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.自動化書庫
請求記号 621.38/EIN/22
資料ID 39040141387
コメント
状態
禁帯出区分 一般
予約 0件
Web書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 VLSI reliability / Anant G. Sabnis
出版・頒布事項 San Diego ; Tokyo : Academic Press , c1990
形態事項 xiii, 207 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0122341228
書誌構造リンク VLSI electronics : microstructure science / edited by Norman G. Einspruch <BB20125509> v. 22//a
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注記 Includes bibliographical references and index
NCID BA10165146
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Sabnis, Anant G. <AU00057764>
分類標目 LCC:TK7874
分類標目 DC20:621.39/5 s
分類標目 DC20:621.39/5
分類標目 電子工学 NDC8:549.7
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Reliability
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