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Logic testing and design for testability

Hideo Fujiwara. -- MIT Press, 1985. -- (MIT Press series in computer systems). <BB20264692>
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Hideo Fujiwara. -- MIT Press, 1985. -- (MIT Press series in computer systems). <BB20264692>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 瀬田.自動化書庫 621.38/FUJ 39400047296 一般 0件
巻号
所蔵館 瀬田
配置場所 瀬田.自動化書庫
請求記号 621.38/FUJ
資料ID 39400047296
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
Web書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 Logic testing and design for testability / Hideo Fujiwara
出版・頒布事項 Cambridge, Mass. : MIT Press , c1985
形態事項 x, 284 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 9780262561990
書誌構造リンク MIT Press series in computer systems <BB10005765>//a
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注記 Bibliography: p. [272]-278
注記 Includes index
NCID BA0446462X
本文言語コード 英語
著者標目リンク *藤原, 秀雄(1946-)||フジワラ, ヒデオ <AU00048719>
分類標目 LCC:TK7868.L6
分類標目 DC19:621.3815/37
件名標目等 Logic circuits -- Testing
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