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New horizons in testing : latent trait test theory and computerized adaptive testing

edited by David J. Weiss ; contributors, R. Darrell Bock ... [et al.]. -- Academic Press, 1983. <BB21150396>
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New horizons in testing : latent trait test theory and computerized adaptive testing

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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID コメント 状態 禁帯出区分 予約 Web書棚
0001 深草.8号館閉架3F 140.7/WEI-C 10100098058 一般 0件
巻号
所蔵館 深草
配置場所 深草.8号館閉架3F
請求記号 140.7/WEI-C
資料ID 10100098058
コメント
状態
禁帯出区分 一般
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 New horizons in testing : latent trait test theory and computerized adaptive testing / edited by David J. Weiss ; contributors, R. Darrell Bock ... [et al.]
出版・頒布事項 New York : Academic Press , 1983
形態事項 xvii, 345 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0127427805
注記 Derived from the 1979 Computerized Adaptive Testing Conference held at Wayzata, Minn., sponsored by the U.S. Office of Naval Research, et al
注記 Includes bibliographies and indexes
NCID BA00680204
本文言語コード 英語
著者標目リンク Weiss, David J. <AU00260814>
著者標目リンク Bock, R. Darrell <AU00260815>
著者標目リンク Computerized Adaptive Testing Conference <AU00260816> Wayzata, Minn., 1979
著者標目リンク United States. Office of Naval Research <AU00070743>
分類標目 LCC:BF176
分類標目 DC19:153.9/3
件名標目等 Psychological tests -- Congresses
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