目次
第1章 リファレンスフリー蛍光X線分析の基礎(元素分析がもたらす社会のイノベーション;蛍光X線分析法は「元素を色分けして識別する」方法である ほか)
第2章 リファレンスフリー蛍光X線分析の適用事例(電気・電子製品の環境規制対応分析;バリアメタル薄膜の軽元素分析 ほか)
第3章 リファレンスフリー蛍光X線分析の注意事項・事例(高い信頼性を得るための注意事項;コーティングアプリケーションにおける注意事項 ほか)
第4章 いっそう高い信頼性のリファレンスフリー蛍光X線分析をめざして(信頼性ツールとしての認証標準物質;ラウンドロビンテストの経験 ほか)
付録 リファレンスフリー蛍光X線分析の情報源(物理定数;認証標準物質 ほか)
著者等紹介
桜井健次[サクライケンジ]
工学博士。1988年東京大学大学院工学系研究科博士課程修了。現在、国立研究開発法人物質・材料研究機構先端材料解析研究拠点上席研究員。筑波大学大学院教授を兼務(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
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